以应用为导向，忱芯科技携功率半导体精准测试解决方案参展深圳国际电子展

忱芯科技测试解决方案

以应用为导向

随着新能源产业蓬勃发展，第三代半导体因其高功率材料特性获得业界青睐。作为新能源汽车、新能源发电等电力电子系统中的核心部件，SiC MOSFET的应用领域日益广泛；以碳化硅为核心的800V强电系统将在主驱逆变器、电机驱动系统、DC-DC到OBC及充电桩等领域迎来规模化发展。

如何对这些核心功率模块进行精准、可靠的测试和筛选变得至为关键。

忱芯科技创始人毛赛君博士，将在此次报告中重点分享以新能源汽车应用为导向的碳化硅功率半导体器件关键特性、应用挑战以及发展趋势，介绍其精准动静态特性表征测试关键技术和可靠性测试关键技术，最后带来了碳化硅功率半导体器件精准动静态特性表征与栅极氧化层可靠性、双极型退化可靠性以及DHTOL可靠性测试的全面解决方案。

Edison & Maxwell 动静态测试系统

助力精准、可靠、高性价比测试

针对功率半导体的车规级应用，忱芯科技研发了SiCxa0/xa0IGBT功率半导体器件动静态测试系统，

破解影响测试准确性和可靠性的技术难点，实现——

推出至今，忱芯科技的SiC/IGBT功率半导体器件动静态测试系统已实现稳定的量产运行，合作客户覆盖头部功率半导体企业及新能源车厂。其中，三电平动静态测试机装机量行业领先。

动态测试系统·产线版 & 静态测试系统·产线版

新一代SiC MOSFET动态可靠性测试系统

让完美的高频方波电压不再只停留在教科书上

SiC MOSFET功率器件需要在高电平与低电平之间频繁切换，SiC/SiO2界面态电荷陷阱在器件开启和关断过程中俘获和释放载流子，使得SiC MOSFET阈值电压发生漂移；SiC MOSFET漏源极长期承受高频高压应力，高dv/dt下芯片快速充电导致老化失效。硅基功率半导体器件施加静态直流应力的传统可靠性测试方法已经没法满足SiC MOSFET的可靠性测试要求，模拟实际应用开关运行条件的高温动态高频交流测试才能实现对SiC MOSFET可靠性的全面测试，包括验证器件设计与工艺、老化测试，以及成品测试等。AQG324已经发布了车规级SiC MOSFET器件动态可靠性测试标准。

忱芯科技推出新一代SiC MOSFET动态可靠性测试系统，覆盖SiC MOSFET单管功率器件和功率模块的DHTGB/DHTRB/DH3TRB动态可靠性测试，已经交付多家SiC MOSFET企业使用。

宽禁带半导体器件动态可靠性测试系统

该系统支持不同封装类型的SiC MOSFET功率器件动态可靠性测试，可满足客户高精度、大容量等测试需求。设备主要亮点有：

About UniSiC

忱芯科技提供SiC&GaN宽禁带功率半导体器件及高性能硅基IGBT功率半导体器件实验室版与产线版全系列ATE测试系统，实现功率半导体器件前道、后道到应用级测试全覆盖。公司核心优势在于对碳化硅功率半导体特性精准表征与测试及高频电力电子应用的深刻理解，成功开发了多个碳化硅ATE与碳化硅功率部件行业首台套产品，性能业内领先。

目前，忱芯科技碳化硅ATE设备已实现批量出货，成功交付功率半导体IDM企业、芯片设计公司、功率器件封装公司与新能源车厂及Tier1企业，主要包括：动态测试系统、静态测试系统、单管功率器件动静态测试一体机系统、动态可靠性测试系统、车规级连续功率无功老化测试系统、DHTOL功率半导体器件带载老化测试系统等，覆盖实验室到产线应用，助力功率半导体及新能源赛道企业实现精准、可靠、高性价比测试。